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聚焦瑞凱，傳遞環(huán)境檢測行業(yè)新動態(tài)
瑞凱持續(xù)加強可靠性環(huán)境試驗設備研發(fā)，助推電池業(yè)務發(fā)展
17 2021-04

瑞凱持續(xù)加強可靠性環(huán)境試驗設備研發(fā)，助推電池業(yè)務發(fā)展

電池測試應用于多種工業(yè)領域，這些領域包括汽車、計算機、通訊、國防、和新能源市場，廣泛的應用需要更加可靠的質(zhì)量保證和使用安全性。作為多年深耕鋰電領域、提供鋰電池環(huán)境可靠性測試設備的生產(chǎn)企業(yè)，瑞凱儀器也迎來了新一輪發(fā)展高潮，防爆型高低溫測試心技術，持續(xù)加強可靠性環(huán)境試驗設備的開發(fā)與拓展，為鋰電池安全保駕…
高溫對電源適配器安全性能的影響

試驗案例：高溫對電源適配器安全性能的影響

通過試驗可驗證較高的環(huán)境溫度會增加設備的發(fā)熱程度。選擇在發(fā)熱上具有一定代表性的試驗樣品，使其處于滿負載的條件下，或處于在…
集成電路芯片高低溫測試的應用

集成電路芯片高低溫測試的應用

通過實際應用發(fā)現(xiàn)，必須注意以下一些具體的環(huán)節(jié)，如測試板的隔離、防潮，被測器件的靜電保護，被測器件芯片溫度的確定等問題、才…
LED燈溫度循環(huán)試驗測試方法

LED燈溫度循環(huán)試驗測試方法

溫度循環(huán)試驗應按照GB/T2423.22-2012的試驗Nb:“規(guī)定變化速率的溫度變化”和下述規(guī)定進行。試驗應在滿足GB…
半導體高溫儲存試驗測試標準

半導體高溫儲存試驗測試標準

國際標準分類中，半導體高溫儲存試驗涉及到半導體分立器件。在中國標準分類中，半導體高溫儲存試驗涉及到半導體分立器件綜合、電…
IC芯片等產(chǎn)品高溫測試失效原因分析

IC芯片等產(chǎn)品高溫測試失效原因分析

該產(chǎn)品的高溫失效問題，與COB各材料都有著密切的關系:PCB、IC、邦定線、黑膠。但主要的原因是在IC質(zhì)量有缺陷的前提下…
高低溫試驗箱箱體內(nèi)框架主體的結(jié)構設計

高低溫試驗箱箱體內(nèi)框架主體的結(jié)構設計

本文設計的高低溫試驗箱箱體的內(nèi)部工作環(huán)境為非真空狀態(tài)，工作溫度范圍廣，內(nèi)部空間尺寸跨度較大，對內(nèi)框架的設計提出了挑戰(zhàn)。如…

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