高溫貯存試驗(yàn)通常用于確定貯存條件下時(shí)間和溫度對(duì)熱故障機(jī)制的影響，以及固態(tài)電子設(shè)備（包括非易失性存儲(chǔ)設(shè)備）的時(shí)間-故障分布（數(shù)據(jù)保留故障重建機(jī)制）。在試驗(yàn)過程中，在不施加電氣條件的情況下，使用加速應(yīng)力溫度，根據(jù)時(shí)間、溫度和包裝（如有），利用阿倫尼烏斯加速方程建立了熱失效機(jī)理模型。